Magyar
Toggle navigation
Tudóstér
Magyar
Tudóstér
Keresés
Egyszerű keresés
Összetett keresés
CCL keresés
Egyszerű keresés
Összetett keresés
CCL keresés
Böngészés
Saját polc tartalma
(
0
)
Korábbi keresések
Összesen 1 találat.
#/oldal:
12
36
60
120
Rövid
Hosszú
MARC
Részletezés:
Rendezés:
Szerző növekvő
Szerző csökkenő
Cím növekvő
Cím csökkenő
Dátum növekvő
Dátum csökkenő
1.
001-es BibID:
BIBFORM120502
035-os BibID:
(Scopus)85139019757 (WoS)000876813100005
Első szerző:
Fouad, Suzan Salad
Cím:
Microstructural and optical duality of TiO2/Cu/TiO2 trilayer films grown by atomic layer deposition and DC magnetron sputtering / S.S. Fouad, Eszter Baradács, M. Nabil, Bence Parditka, S. Negm, Zoltán Erdélyi
Dátum:
2022
ISSN:
1387-7003
Megjegyzések:
In this research, we report a comparative study of trilayer TiO2(60 nm)/Cu/TiO2(60 nm) thin film as a function of different Cu interlayer thickness (20, 40 and 60 nm), fabricated by atomic layer deposition (ALD) and DC magnetron sputtering. The surface morphology, elemental information and optical properties, were tested as a function of Cu interlayer thickness by scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometer (EDX) and double beam spectrophotometer (UV?vis) respectively.The growth mechanism and the microstructural conversion were investigated. The absorption spectrum was mesured and used to calculate the energy band gap (Eg). The obtained results show that the increase of the Cu interlayer enhance the activity of photocatalysis by employing distinct modification strategies to decrease the indirect optical band gap energy from 2.85 to 1.86 eV, and conventionally making the photocatalyst efficient to absorb visible light range. The role of the optical energy band gap Eg as well as the average electronegativity (?) as basic parameters of optical basicity (?A) and refractive index (n) has been emphasized. Values of electronegativity (?), phase velocity (V) and transmission coefficient (TC) decreased, while the refractive index, optical basicity, electronic polarizability (?e), and reflection loss (RL) increased with increasing Cu interlayer thickness. A good agreement is observed among the selected parameters. The results demonstrate that the ALD and the DC magnetron sputtering are promising techniques for preparing TiO2/Cu/TiO2 thin films, with different thickness of copper (Cu), that can be used in low-cost mid-IR detection and can enhanced the properties of optoelectronic devices.
Tárgyszavak:
Természettudományok
Fizikai tudományok
idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
folyóiratcikk
Band gap
Interlayer
Optical basicity
Photocatalyst
Titanium dioxide
Megjelenés:
Inorganic Chemistry Communications. - 145 (2022), p. 1-7. -
További szerzők:
Baradács Eszter (1974-) (fizikus)
Nabil, M.
Parditka Bence (1985-) (fizikus)
Negm, S.
Erdélyi Zoltán (1974-) (fizikus)
Internet cím:
Szerző által megadott URL
DOI
Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
Borító:
Saját polcon:
Rekordok letöltése
1
Corvina könyvtári katalógus v8.2.27
© 2023
Monguz kft.
Minden jog fenntartva.