Összesen 1 találat.
#/oldal:
Részletezés:
Rendezés:

1.

001-es BibID:BIBFORM058804
Első szerző:Lovics Riku (fizikus)
Cím:Depth profile analysis of amorphous/microcrystalline SiLICIUM solar cells and Aluminum doped ZinC oxide by secondary neutral mass spectroscopy / Lovics Riku
Dátum:2010
ISSN:1789-6088
Megjegyzések:We performed depth profile analysis of TCO layers and n-ip:Si diodes by a Secondary Neutral Mass Spectrometer (SNMS).SNMS is a destructive analysis technique based on the measurementof secondary neutral particles sputtered from the surfaceof a sample.
Tárgyszavak:Természettudományok Fizikai tudományok idegen nyelvű folyóiratközlemény hazai lapban
Megjelenés:Acta Physica Debrecina. - 44 (2010), p. 69-77. -
Internet cím:Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
Borító:
Rekordok letöltése1 
Corvina könyvtári katalógus v8.2.27 © 2023 Monguz kft. Minden jog fenntartva.