Magyar
Toggle navigation
Tudóstér
Magyar
Tudóstér
Keresés
Egyszerű keresés
Összetett keresés
CCL keresés
Egyszerű keresés
Összetett keresés
CCL keresés
Böngészés
Saját polc tartalma
(
0
)
Korábbi keresések
CCL parancs
CCL
Összesen 3 találat.
#/oldal:
12
36
60
120
Rövid
Hosszú
MARC
Részletezés:
Rendezés:
Szerző növekvő
Szerző csökkenő
Cím növekvő
Cím csökkenő
Dátum növekvő
Dátum csökkenő
1.
001-es BibID:
BIBFORM042940
Első szerző:
Cserháti Csaba (fizikus)
Cím:
Anomalous growth kinetics of the Ni2Si reaction layer in a-Si/Ni system / Cserháti Csaba, Erdélyi Zoltán, Katona Gábor, Csik Attila. Lakatos Ákos, Langer Gábor, Kis-Varga Miklós, Daróczi Lajos, Erdélyi Gábor, Vad Kálmán, I. Zizak, E. Dudzik, R. Feyerherm, Beke Dezső
Dátum:
2009
Tárgyszavak:
Természettudományok
Fizikai tudományok
előadáskivonat
Megjelenés:
International Workshop "Diffusion and Solid State Reactions on Nanoscale" / ed. Csik Attila. - p. 23.
További szerzők:
Erdélyi Zoltán (1974-) (fizikus)
Katona Gábor (1977-) (fizikus)
Csik Attila (1975-) (fizikus)
Lakatos Ákos (1983-) (fizikus, környezetmérnök, létesítménymérnök)
Langer Gábor Antal (1950-) (fizikus)
Kis-Varga Miklós
Daróczi Lajos (1965-) (fizikus)
Erdélyi Gábor (1950-) (fizikus)
Vad Kálmán
Zizak, I.
Dudzik, E.
Feyerherm, R.
Beke Dezső László (1945-) (fizikus)
Internet cím:
Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
Borító:
Saját polcon:
2.
001-es BibID:
BIBFORM004317
Első szerző:
Csik Attila (fizikus)
Cím:
Investigation of Sb diffusion in amorphous silicon / A. Csik, G. A. Langer, G. Erdélyi, D. L. Beke, Z. Erdelyi, K. Vad
Dátum:
2008
Megjegyzések:
Amorphous silicon materials and its alloys became extensively used in some technical applications involving large area of the microelectronic and optoelectronic devices. However, the amorphous-crystalline transition, segregation and diffusion processes still have numerous unanswered questions. In this work we study the Sb diffusion into an amorphous Si film by means of Secondary Neutral Mass Spectrometry. Amorphous Si/Si1-xSbx/Si tri-layer samples with 5at% antimony concentration were prepared by direct current magnetron sputtering onto Si substrate at room temperature. Annealing of the samples was performed at different temperatures in vacuum (P < 10(-7) mbar) and 100 bar high purity (99.999%) Ar pressure. During annealing a rather slow mixing between the Sb-alloyed and the amorphous Si layers was observed. Supposing concentration independent of diffusion, the evaluated diffusion coefficients are in the range of similar to 10(-21) m(2)s(-1) at 550 degrees C.
Tárgyszavak:
Természettudományok
Fizikai tudományok
idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
Megjelenés:
Vacuum. - 82 : 2 (2008), p. 257-260. -
További szerzők:
Langer Gábor Antal (1950-) (fizikus)
Erdélyi Gábor (1950-) (fizikus)
Beke Dezső László (1945-) (fizikus)
Erdélyi Zoltán (1974-) (fizikus)
Vad Kálmán
Internet cím:
elektronikus változat
Borító:
Saját polcon:
3.
001-es BibID:
BIBFORM013075
Első szerző:
Lakatos Ákos (fizikus, környezetmérnök, létesítménymérnök)
Cím:
Nanoscale investigation of shift of individual interfaces in temperature induced processes of Ni-Si by secondary neutral mass / A. Lakatos, G. A. Langer, A. Csik, C. Cserhati, M. Kis-Varga, L. Daroczi, G. L. Katona, Z. Erdélyi, G. Erdelyi, K. Vad, D. L. Beke
Dátum:
2010
Tárgyszavak:
Természettudományok
Fizikai tudományok
idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
Fizikai-, Számítás- és Anyagtudomány
Megjelenés:
Applied Physics Letters . - 97 (2010), p. 233103-1 - 233103-3. -
További szerzők:
Langer Gábor Antal (1950-) (fizikus)
Csik Attila (1975-) (fizikus)
Cserháti Csaba (1963-) (fizikus)
Kis-Varga Miklós
Daróczi Lajos (1965-) (fizikus)
Katona Gábor (1977-) (fizikus)
Erdélyi Zoltán (1974-) (fizikus)
Erdélyi Gábor (1950-) (fizikus)
Vad Kálmán
Beke Dezső László (1945-) (fizikus)
Pályázati támogatás:
TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KONV-2010-0007
TÁMOP
Diffúzió és szilárdtest reakciók nanoskálán
Internet cím:
DOI
Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
Borító:
Saját polcon:
Rekordok letöltése
1
Corvina könyvtári katalógus v8.2.27
© 2023
Monguz kft.
Minden jog fenntartva.