Magyar
Toggle navigation
Tudóstér
Magyar
Tudóstér
Keresés
Egyszerű keresés
Összetett keresés
CCL keresés
Egyszerű keresés
Összetett keresés
CCL keresés
Böngészés
Saját polc tartalma
(
0
)
Korábbi keresések
CCL parancs
CCL
Összesen 3 találat.
#/oldal:
12
36
60
120
Rövid
Hosszú
MARC
Részletezés:
Rendezés:
Szerző növekvő
Szerző csökkenő
Cím növekvő
Cím csökkenő
Dátum növekvő
Dátum csökkenő
1.
001-es BibID:
BIBFORM120502
035-os BibID:
(Scopus)85139019757 (WoS)000876813100005
Első szerző:
Fouad, Suzan Salad
Cím:
Microstructural and optical duality of TiO2/Cu/TiO2 trilayer films grown by atomic layer deposition and DC magnetron sputtering / S.S. Fouad, Eszter Baradács, M. Nabil, Bence Parditka, S. Negm, Zoltán Erdélyi
Dátum:
2022
ISSN:
1387-7003
Megjegyzések:
In this research, we report a comparative study of trilayer TiO2(60 nm)/Cu/TiO2(60 nm) thin film as a function of different Cu interlayer thickness (20, 40 and 60 nm), fabricated by atomic layer deposition (ALD) and DC magnetron sputtering. The surface morphology, elemental information and optical properties, were tested as a function of Cu interlayer thickness by scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometer (EDX) and double beam spectrophotometer (UV?vis) respectively.The growth mechanism and the microstructural conversion were investigated. The absorption spectrum was mesured and used to calculate the energy band gap (Eg). The obtained results show that the increase of the Cu interlayer enhance the activity of photocatalysis by employing distinct modification strategies to decrease the indirect optical band gap energy from 2.85 to 1.86 eV, and conventionally making the photocatalyst efficient to absorb visible light range. The role of the optical energy band gap Eg as well as the average electronegativity (?) as basic parameters of optical basicity (?A) and refractive index (n) has been emphasized. Values of electronegativity (?), phase velocity (V) and transmission coefficient (TC) decreased, while the refractive index, optical basicity, electronic polarizability (?e), and reflection loss (RL) increased with increasing Cu interlayer thickness. A good agreement is observed among the selected parameters. The results demonstrate that the ALD and the DC magnetron sputtering are promising techniques for preparing TiO2/Cu/TiO2 thin films, with different thickness of copper (Cu), that can be used in low-cost mid-IR detection and can enhanced the properties of optoelectronic devices.
Tárgyszavak:
Természettudományok
Fizikai tudományok
idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
folyóiratcikk
Band gap
Interlayer
Optical basicity
Photocatalyst
Titanium dioxide
Megjelenés:
Inorganic Chemistry Communications. - 145 (2022), p. 1-7. -
További szerzők:
Baradács Eszter (1974-) (fizikus)
Nabil, M.
Parditka Bence (1985-) (fizikus)
Negm, S.
Erdélyi Zoltán (1974-) (fizikus)
Internet cím:
Szerző által megadott URL
DOI
Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
Borító:
Saját polcon:
2.
001-es BibID:
BIBFORM103326
035-os BibID:
(WoS)000842431600003 (Scopus)85136470446
Első szerző:
Fouad, Suzan Salad
Cím:
Effect of Cu interlayer on opto-electrical parameters of ZnO thin films / Fouad, S. S., Parditka, B., Nabil, M., Baradács, E., Negm, S., Erdélyi, Zoltán
Dátum:
2022
ISSN:
0957-4522
Megjegyzések:
In this paper, we focused our attention on the tailoring of structure and optical analysis as a function of Cu interlayer between the ZnO layers. The Cu interlayer was deposited by magnetron sputtering, while the ZnO layers were deposited by atomic layer deposition. Morphological analysis, based on grazing incident X-ray diffraction patterns and scanning electron microscope images, revealed formation of crystalline phase and a successful incorporation of Cu into ZnO. The estimated average crystallite size increased from 8.64 to 12.05 nm as Cu interlayer thickness increased from 20 to 70 nm. The averaged value of the surface roughness was determined, from both the profilometer and the XRD measurements. The determinations of the optical band gap and the nature of optical transition were performed by the analysis of absorption spectrum. Also, some physical quantities, such as optical density OD and skin depth delta, were estimated. Optical absorption studies revealed that all the films have a direct allowed transition. A shift in the optical energy band gap E-g from 2.75 to 2.43 eV as a function of Cu interlayer thickness was observed. The linear refractive index (n) was analyzed to determine the metallization criterion M, the reflection loss function R-L, the transmission coefficient T and the relative density D-r. Moreover, we showed that the doping of ZnO with different thickness of Cu interlayer enhances its optical activity and electrical conductivity as well, which makes it useful for photocatalytic application and sensor device fabrication in particular conditions.
Tárgyszavak:
Természettudományok
Fizikai tudományok
idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
folyóiratcikk
Megjelenés:
Journal Of Materials Science-Materials In Electronics. - 33 : 26 (2022), p. 20594-20603. -
További szerzők:
Nabil, M.
Negm, S.
Parditka Bence (1985-) (fizikus)
Baradács Eszter (1974-) (fizikus)
Erdélyi Zoltán (1974-) (fizikus)
Pályázati támogatás:
TKP2021-NKTA-34
Egyéb
TKP2021-NKTA
Egyéb
Internet cím:
Szerző által megadott URL
DOI
Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
Borító:
Saját polcon:
3.
001-es BibID:
BIBFORM092086
035-os BibID:
(cikkazonosító)166617
Első szerző:
Fouad, Suzan Salad
Cím:
Bilayer number driven changes in polarizability and optical property in ZnO/TiO2 nanocomposite films prepared by ALD / S. S. Fouad, B. Parditka, M. Nabil, E. Baradács, S. Negm, H. E. Atyia, Z. Erdélyi
Dátum:
2021
ISSN:
0030-4026
Tárgyszavak:
Természettudományok
Fizikai tudományok
idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
folyóiratcikk
atomic layer deposition
optical energy gap
linear refractive index
polarizability
electrical susceptibility
Megjelenés:
Optik. - 233 (2021), p. 1-7. -
További szerzők:
Parditka Bence (1985-) (fizikus)
Nabil, M.
Baradács Eszter (1974-) (fizikus)
Negm, S.
Atyia, H. E.
Erdélyi Zoltán (1974-) (fizikus)
Pályázati támogatás:
NKFIH-1150-6/2019
Egyéb
Internet cím:
Szerző által megadott URL
DOI
Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
Borító:
Saját polcon:
Rekordok letöltése
1
Corvina könyvtári katalógus v8.2.27
© 2023
Monguz kft.
Minden jog fenntartva.