Találati lista | Tudóstér

001-es BibID:	BIBFORM058822
Első szerző:	Lovics Riku (fizikus)
Cím:	SNMS depth profile analysis of solar cells using conducting mesh / R. Lovics, A. Csik, V. Takáts, K. Vad, G.A. Langer
Dátum:	2010
Megjegyzések:	A new and promising approach for photovoltaic application of microcrystalline silicon (?-Si) is the so-called "micromorph tandem" structure, which is a serial combination of an amorphous and a microcrystalline cell. The development and implementation of that technology into industrial manufacturing line may result in the reduction of specific processing costs and increasing efficiency. On the other hand, not only the production, but the analysis of the produced layers is also important in order to improve the technology efficiency. One of the most effective used technique for the dept profile analysis of these samples is the Secondary Neutral Mass Spectrometry (SNMS). However, in the case of insulating samples the surface charge can be a serious problem during depth profile analysis. Beside of the earlier developed high frequency mode (HFM) of electron-gas SNMS there is another method to prevent the charge accumulation. By using a conducting mesh (e.g. copper, stainless steel) placed on the sample surface, we have an opportunity to neutralize the surface charge during measurements.
Tárgyszavak:	Természettudományok Fizikai tudományok poszter
Megjelenés:	13th Joint Vacuum Conference June 20-24, 2010, Štrbské Pleso. - (2010), p. 15.
További szerzők:	Csik Attila (1975-) (fizikus) Takáts Viktor Vad Kálmán Langer Gábor Antal (1950-) (fizikus)
Internet cím:	Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
Borító:
Saját polcon:

001-es BibID:	BIBFORM058838
Első szerző:	Lovics Riku (fizikus)
Cím:	Surface roughness and interface study by Secondary Neutral Mass Spectrometry / R. Lovics, V. Takáts, A. Csik, J. Hakl, G.A. Langer, Zs. Baji, Z. Lábadi, K. Vad
Dátum:	2012
Megjegyzések:	There are numerous models in the literature, which make effort to reconstruct the depth concentration profile measured bySecondary Ion Mass spectrometry (SIMS) or Auger-electron Spectroscopy (AES), but they are only partially applicable for SNMStechnique. Surface roughness, sputtered crater shape, detection rate of different constituent elements, and some other complexnanoscale physical behaviours were taken into account systematically in a quantitative depth profile analysis performed by SNMS.The evaluation method presented here is based on statistical and probability calculations of surface roughness determinedexperimentally before and after sputtering. We show that the surface roughness is an essential parameter in determination of the thinfilm layer structures.
Tárgyszavak:	Természettudományok Fizikai tudományok poszter
Megjelenés:	14th Joint Vacuum Conference, 12th Europena Vacuum Conference, 11th Annual Meeting of the German Vacuum Society, 19th Croatian-Slovenian Vacuum Meeting. Dubrovnik, Croatia, 4-8 June, 2012 : abstract book. - (2012), p. 211.
További szerzők:	Takáts Viktor Csik Attila (1975-) (fizikus) Hakl József Langer Gábor Antal (1950-) (fizikus) Baji Zs. Lábadi Zoltán Vad Kálmán
Internet cím:	Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
Borító:
Saját polcon:

001-es BibID:	BIBFORM037918
Első szerző:	Lovics Riku (fizikus)
Cím:	Depth profile analysis of solar cells by Secondary Neutral Mass Spectrometry using conducting mesh / R. Lovics, A. Csik, V. Takáts, J. Hakl, K. Vad, G. A. Langer
Dátum:	2012
ISSN:	0042-207X
Tárgyszavak:	Természettudományok Fizikai tudományok idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban Spolar cell Depth profile analysis SNMS Conducting mesh
Megjelenés:	Vacuum. - 86 : 6 (2012), p. 721-723. -
További szerzők:	Csik Attila (1975-) (fizikus) Takáts Viktor Hakl József Vad Kálmán Langer Gábor Antal (1950-) (fizikus)
Pályázati támogatás:	73424 OTKA
Internet cím:	Szerző által megadott URL DOI Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
Borító:
Saját polcon: