Találati lista | Tudóstér

001-es BibID:	BIBFORM039958
Első szerző:	Csik Attila (fizikus)
Cím:	Interdiffusion in amorphous Si/Ge multilayers by Auger depth profiling technique / Csik, A., Langer, G., Beke, D. L., Erdelyi, Z., Menyhard, M., Sulyok, A.
Dátum:	2001
ISSN:	0021-8979
Tárgyszavak:	Természettudományok Fizikai tudományok idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
Megjelenés:	Journal Of Applied Physics. - 89 : 1 (2001), p. 804-806. -
További szerzők:	Langer Gábor Antal (1950-) (fizikus) Beke Dezső László (1945-) (fizikus) Erdélyi Zoltán (1974-) (fizikus) Menyhárd Miklós Sulyok Attila
Internet cím:	DOI Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
Borító:
Saját polcon:

001-es BibID:	BIBFORM093899
035-os BibID:	(cikkazonosító)9308 (WOS)000656206800037 (Scopus)85105236689
Első szerző:	Gurbán Sándor
Cím:	Interface induced diffusion / S. Gurbán, A. Sulyok, Miklos Menyhárd, E. Baradács, B. Parditka, C. Cserháti, G. A. Langer, Z. Erdélyi
Dátum:	2021
ISSN:	2045-2322
Tárgyszavak:	Természettudományok Fizikai tudományok idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban folyóiratcikk
Megjelenés:	Scientific Reports. - 11 : 1 (2021), p. 1-11. -
További szerzők:	Sulyok Attila Menyhárd Miklós Baradács Eszter (1974-) (fizikus) Parditka Bence (1985-) (fizikus) Cserháti Csaba (1963-) (fizikus) Langer Gábor Antal (1950-) (fizikus) Erdélyi Zoltán (1974-) (fizikus)
Pályázati támogatás:	TKP2020-IKA-04 Egyéb
Internet cím:	Szerző által megadott URL DOI Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
Borító:
Saját polcon:

001-es BibID:	BIBFORM072279
035-os BibID:	(Cikkazonosító)2124 (WOS)000423787500099 (Scopus)85041631046
Első szerző:	Gurbán Sándor
Cím:	Electron irradiation induced amorphous SiO2 formation at metal oxide/Si interface at room temperature; electron beam writing on interfaces / S. Gurbán, P. Petrik, M. Serényi, A. Sulyok, M. Menyhárd, E. Baradács, B. Parditka, C. Cserháti, G. A. Langer, Z. Erdélyi
Dátum:	2018
ISSN:	2045-2322
Tárgyszavak:	Természettudományok Fizikai tudományok idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban folyóiratcikk
Megjelenés:	Scientific Reports. - 8 : 1 (2018), p. 1-7. -
További szerzők:	Petrik P. Serényi Miklós Sulyok Attila Menyhárd Miklós Baradács Eszter (1974-) (fizikus) Parditka Bence (1985-) (fizikus) Cserháti Csaba (1963-) (fizikus) Langer Gábor Antal (1950-) (fizikus) Erdélyi Zoltán (1974-) (fizikus)
Internet cím:	Szerző által megadott URL DOI Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
Borító:
Saját polcon:

001-es BibID:	BIBFORM008805
Első szerző:	Kövér László (fizikus)
Cím:	Determination of overlayer thickness by QUASES analysis of photon-excited KLL Auger spectra of Ni and Cu films / L. Kövér, S. Tougaard, J. Tóth, L. Daróczi, I. Szabó, G. Langer, M. Menyhárd
Dátum:	2001
ISSN:	0142-2421
Megjegyzések:	Quantitative characterization of overlayer nanostructures is important for many practical applications and has become a feasible task for electron spectroscopy. The QUASES (Quantitative Analysis of Surfaces by Electron Spectroscopy) software package, developed recently, provides a general tool for quantification in XPS by analysing the spectral shape of the background caused by inelastic scattering of the signal electrons and has been applied successfully for determining the thickness of surface films in the nanometre range. In this work the application of such analysis is extended to metallic films having several tens of nanometre thickness and the accuracy of the results is tested by using independent methods. Both Ni and Cu KLL Auger spectra were photoexcited from Ni and Cu overlayers (deposited onto Si substrates) of different thicknesses in the 10-60 nm range, and were measured with high energy resolution. The film thickness values from the QUASES spectral shape analysis are compared with the data obtained by using a quartz crystal microbalance, cross-sectional transmission electron microscopy and scanning probe microscopy (SPM). Good consistency has been found for the thickness values obtained from the spectral shape analysis and from microscopy, especially for Ni films. Assuming nominal film thickness, the values of the inelastic mean free path of 6-7 keV energy electrons in Ni and Cu were also determined, showing good (Ni) or reasonable (Cu) agreement with those proposed by Powell and Jablonski. The effect of island formation was shown by the QUASES spectral shape analysis and confirmed by SPM, Copyright (C) 2001 John Wiley & Sons, Ltd.
Tárgyszavak:	Természettudományok Fizikai tudományok idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
Megjelenés:	Surface and interface analysis. - 31 : 4 (2001), p. 271-279. -
További szerzők:	Tougaard, S. Tóth József (fizikus) Daróczi Lajos (1965-) (fizikus) Szabó István András (1956-) (fizikus) Langer Gábor Antal (1950-) (fizikus) Menyhárd Miklós
Borító:
Saját polcon: