CCL

Összesen 5 találat.
#/oldal:
Részletezés:
Rendezés:

1.

001-es BibID:BIBFORM008631
Első szerző:Beke Dezső László (fizikus)
Cím:Diffúzió nanoskálán / Beke D., Szabó I., Langer G., Erdélyi Z., Cserháti Cs., Daróczi L.
Dátum:2003
ISSN:0025-0325
Tárgyszavak:Természettudományok Fizikai tudományok magyar nyelvű folyóiratközlemény hazai lapban
Megjelenés:Magyar Tudomány 48 : 9 (2003), p. 1130-1137. -
További szerzők:Szabó István András (1956-) (fizikus) Langer Gábor Antal (1950-) (fizikus) Erdélyi Zoltán (1974-) (fizikus) Cserháti Csaba (1963-) (fizikus) Daróczi Lajos (1965-) (fizikus)
Internet cím:Intézményi repozitóriumban (DEA) t árolt változat
Szerző által megadott URL
Borító:

2.

001-es BibID:BIBFORM055198
Első szerző:Harasztosi Lajos (villamosmérnök)
Cím:Részletes zaj-analízis előnyei Barkhausen-zaj mérések alkalmazásaiban / Harasztosi Lajos, Szabó István, Daróczi Lajos, Szabó Sándor, Erdélyi Zoltán, Balogh Zoltán, Eszenyi Gergely, Mojzes Imre, Beke Dezső
Dátum:2006
ISSN:1215-8410 1787-5072
Tárgyszavak:Műszaki tudományok Anyagtudományok és technológiák magyar nyelvű folyóiratközlemény hazai lapban
Megjelenés:Anyagvizsgálók lapja. - 4 (2006), p. 144-148. -
További szerzők:Szabó István András (1956-) (fizikus) Daróczi Lajos (1965-) (fizikus) Szabó Sándor (1968-) (fizikus) Erdélyi Zoltán (1974-) (fizikus) Balogh Zoltán (1982-) (fizikus) Eszenyi Gergely (1983-) (fizikus) Mojzes Imre (1948-2009) (fizikus) Beke Dezső László (1945-) (fizikus)
Internet cím:Szerző által megadott URL
Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
Borító:

3.

001-es BibID:BIBFORM002560
Első szerző:Harasztosi Lajos (villamosmérnök)
Cím:Temperature dependence of Barkhausen noise parameters in carbon steel / L. Harasztosi, L. Daróczi, I. A. Szabó, Z. Balogh, D. L. Beke
Dátum:2007
Tárgyszavak:Természettudományok Fizikai tudományok idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
folyóiratcikk
Megjelenés:Materials Science Forum. - 537-538 (2007), p. 371-378. -
További szerzők:Szabó István András (1956-) (fizikus) Daróczi Lajos (1965-) (fizikus) Balogh Zoltán (1982-) (fizikus) Beke Dezső László (1945-) (fizikus)
Internet cím:elektronikus változat
Borító:

4.

001-es BibID:BIBFORM046139
Első szerző:Iván István
Cím:Deuteron irradiation induced changes in amorphous AsSe films / Ivan I., Szegedi S., Daroczi L., Szabo I. A., Kokenyesi S.
Dátum:2005
ISSN:0168-583X
Tárgyszavak:Természettudományok Fizikai tudományok idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
Megjelenés:Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms 229 : 2 (2005), p. 240-245. -
További szerzők:Szegedi Sándor (fizikus) Szabó István András (1956-) (fizikus) Daróczi Lajos (1965-) (fizikus) Kökényesi Sándor (1946-) (fizikus)
Internet cím:Intézményi repozitóriumban (DEA) tárolt változat
DOI
Borító:

5.

001-es BibID:BIBFORM008805
Első szerző:Kövér László (fizikus)
Cím:Determination of overlayer thickness by QUASES analysis of photon-excited KLL Auger spectra of Ni and Cu films / L. Kövér, S. Tougaard, J. Tóth, L. Daróczi, I. Szabó, G. Langer, M. Menyhárd
Dátum:2001
ISSN:0142-2421
Megjegyzések:Quantitative characterization of overlayer nanostructures is important for many practical applications and has become a feasible task for electron spectroscopy. The QUASES (Quantitative Analysis of Surfaces by Electron Spectroscopy) software package, developed recently, provides a general tool for quantification in XPS by analysing the spectral shape of the background caused by inelastic scattering of the signal electrons and has been applied successfully for determining the thickness of surface films in the nanometre range. In this work the application of such analysis is extended to metallic films having several tens of nanometre thickness and the accuracy of the results is tested by using independent methods. Both Ni and Cu KLL Auger spectra were photoexcited from Ni and Cu overlayers (deposited onto Si substrates) of different thicknesses in the 10-60 nm range, and were measured with high energy resolution. The film thickness values from the QUASES spectral shape analysis are compared with the data obtained by using a quartz crystal microbalance, cross-sectional transmission electron microscopy and scanning probe microscopy (SPM). Good consistency has been found for the thickness values obtained from the spectral shape analysis and from microscopy, especially for Ni films. Assuming nominal film thickness, the values of the inelastic mean free path of 6-7 keV energy electrons in Ni and Cu were also determined, showing good (Ni) or reasonable (Cu) agreement with those proposed by Powell and Jablonski. The effect of island formation was shown by the QUASES spectral shape analysis and confirmed by SPM, Copyright (C) 2001 John Wiley & Sons, Ltd.
Tárgyszavak:Természettudományok Fizikai tudományok idegen nyelvű folyóiratközlemény külföldi lapban
Megjelenés:Surface and interface analysis. - 31 : 4 (2001), p. 271-279. -
További szerzők:Tougaard, S. Tóth József (fizikus) Daróczi Lajos (1965-) (fizikus) Szabó István András (1956-) (fizikus) Langer Gábor Antal (1950-) (fizikus) Menyhárd Miklós
Borító:
Rekordok letöltése1 
Corvina könyvtári katalógus v8.2.27 © 2023 Monguz kft. Minden jog fenntartva.